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2023年5月19日，化工儀器網順利舉辦第二屆半導體超精密分析技術及應用線上研討會。本次研討會邀請了來自華工科技大學武漢光電國家研究中心教授李露穎、中國科學院微電子研究所助理研究員姚毅旭、北京萊伯泰科儀器股份有限公司ICP-MS產品經理陳磊、賽默飛世爾科技(中國)有限公司CST應用科學家潘廣文進行專題報告，深入探討半導體行業需求、半導體高純材料的研究動態和技術進展，為業內科研人員和企業研發人員開拓思路，助力半導體行業健康發展。

半導體作為“芯時代”的“能源”，影響著科技產業的發展，具有：“高付出、低依賴”的特點，其中“低依賴”體現在半導體屬于技術密集型行業，“高付出”體現在半導體的下游就是廣泛的新經濟行業。

當前，半導體行業整體重心聚焦在第三代半導體(以氮化鎵GaN和碳化硅SiC、氧化鋅ZnO、金剛石為代表)。整體來看，第三代半導體材料和器件已實現從研發到量產的跨越，進入產業化快速發展階段，在新能源汽車、高速列車、5G 通信、光伏、消費電子等多個應用領域實現了突破。

而縱觀國內外半導體的發展趨勢。國際方面，全球資本加速進入第三代半導體材料和器件領域，產能大幅度提升，企業并購頻發，第三代半導體產業處于爆發前的“搶跑”階段。；國內市場則將重心放在了加速推動以碳化硅 SiC、氮化鎵 GaN 為代表的第三代半導體新材料新技術產業化進程上，計劃催生一批高速成長的新材料企業。

基于此，本次研討會從半導體材料的研究作為切入，著眼于半導體行業發展，內容涉及“半導體納米材料原子尺度結構性能關系的定量透射電子顯微學研究”“萊伯泰科ICP-MS在半導體硅材料檢測中的應用”“深能級瞬態譜在氮化鎵器件可靠性中的應用”“賽默飛離子色譜在半導體領域的應用”，吸引了超600人次的觀看量。

半導體納米材料原子尺度結構性能關系的定量透射電子顯微學研究李露穎，華中科技大學武漢光電國家研究中心教授

萊伯泰科ICP-MS在半導體硅材料檢測中的應用陳磊，北京萊伯泰科儀器股份有限公司ICP-MS產品經理

深能級瞬態譜在氮化鎵器件可靠性中的應用姚毅旭，中國科學院微電子研究所助理研究員

賽默飛離子色譜在半導體領域的應用潘廣文，賽默飛世爾科技(中國)有限公司 CST應用科學家

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